《图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲》（[日]可靠性技术丛书编辑委员会） - 解忧图书店 - 博库网

图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲

作者：[日]可靠性技术丛书编辑委员会出版社：机械工业

定　价	~~99.00~~
售　价	¥78.71

活　动	特价
配送至	浙江杭州   免邮费收货地址其他地址请选择请选择请选择北京天津河北山西内蒙古辽宁吉林黑龙江上海江苏浙江安徽福建江西山东河南湖北湖南广东广西海南重庆四川贵州云南西藏陕西甘肃青海宁夏新疆
销量	请登录后刷新查看
库存	请登录后刷新查看

立即购买 加入购物车



服务	 正品保证  七天无理由退换货  赠送79积分

解忧图书店

进入首页一键开店

大家都在看

新品推荐

MCGS串口通信从入门到精通实例教程

¥57.72 | ~~¥78.00~~

高级HDL综合和SoC原型设计/数字IC设计工程师丛书

¥54.60 | ~~¥78.00~~

芯片那些事儿：半导体如何改变世界

¥51.06 | ~~¥69.00~~

法拉第激光器

¥126.00 | ~~¥168.00~~

SoC设计基础教程——系统架构

¥88.20 | ~~¥98.00~~

电子技术基础实验(黄进文)

¥30.40 | ~~¥38.00~~

商品详情



请登录后查看更多信息